반도체 후공정의 개념부터 웨이퍼 테스트, 패키지 기술, 신뢰성 평가까지 핵심 내용을 체계적으로 학습하는 강의입니다. 최신 후공정 트렌드도 다룹니다.
▶교육대상
1. 반도체 후공정에 대한 실무적 이해가 필요한 학습자
2. 반도체에 관심있는 학습자
▶학습내용
1. 반도체 후 공정 개요
2. 웨이퍼 테스트 공정
3. 패키지기술 - Conventional 패키지
4. 패키지기술 - WaferLevel 패키지
5. 패키지기술 - 적층 패키지 및 SiP
6. 패키지공정 - Conventional 공정(1)
7. 패키지공정 - Conventional 공정(2)
8. 패키지공정 - Conventional 공정(3)
9. 패키지공정 - Conventional 공정(4)
10. 패키지공정 - Wafer Level 공정
11. 패키지 테스트 공정
12. 패키지 신뢰성 평가
▶수료기준
항목 |
진도율 |
진행단계평가 |
최종평가 |
과제 |
수료점수 |
평가비율 |
100% |
0% |
0% |
0% |
60점이상 |
수료조건 |
80% |
없음 |
없음 |
없음 |
※ 수료기준은 각 평가항목의 점수가 수료기준 점수 이상이고 총점이 60점 이상이어야 합니다.